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    彈片測試座和探針測試座的區別?

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    瀏覽:- 發布日期:2017-06-08 10:02:11【

    一、什么是探針?探針有那些常用種類?

    探針是電測試的接觸媒介,為高端精密型電子五金元器件。 

    1.ICT探針?。↖CT series Probes)

    2.界面探針(Interface Probes)

    3.微型探針(MicroSeries Probes)

    4.開關探針(Switch Probes)

    5.高頻探針(Coaxial Probes)

    6.旋轉探針(Rotator Probes)

    7.高電流探針(High Current Probes)

    8.半導體探針 (Semiconductor Probes)

    9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

    10.汽車線束測試測試探針

    二、IC芯片老化、測試、燒錄主要用到種類,探針的主要參數。

    5.高頻探針(Coaxial Probes)

    用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.

    7.高電流探針(High Current Probes)

    探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

    8.半導體探針 (Semiconductor Probes)

    直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

    探針的主要參數:

    引腳數量

    間距(mm)

    使用溫度

    最高IC頻率

    三、探針圖片及解剖:

     1、顏色:黃色

     2、組成:針頭+針管+彈簧


    IC測試座

    探針在測試座里的使用狀況:有四個接觸點,摩擦點多,高低溫下容易變形,鍍金范圍廣。核心技術掌握在國外公司手中,國內生產廠商積極參與研發,但只有一小部分成功生產。彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長,壽命一般。

    探針測試座

    五、什么是彈片?

    彈片是電測試的接觸媒介,為精密型電子五金元器件,比探針工藝簡單,使用性能比探針好。

    彈片在測試里的使用狀況:有二個接觸點,沒有摩擦點,高低溫下不會變形,鍍金范圍小。核心技術掌握在我們公司手中,彈性好,不會出現偏移,沒有磨損,壽命長。

    彈片測試座


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