“鴻”業之愿于精密檢測
“怡”心一意只為IC服務
“怡”心一意只為IC服務
全國服務熱線：
13632719880
13632719880
雙十一大站剛剛撤下帷幕，每年的雙十一大站中，電子產品無疑是競爭最火熱的一個站場。各路廠商也都卯足了勁火力全開，手機，筆記本，平板電腦等市場的需求越來越大，消費者對產品的性能，外觀方面有著越來越高的要求。而相應的生產廠商們也面臨著更嚴峻的考驗。小到主板芯片，LCD顯示屏，都需要經過千百道嚴苛的試驗。
作為電子產品中最重要的組成部分之一，芯片的測試工作無疑是最為嚴苛的一道工序，我們都知道，電子產品的壽命，很大程度取決于芯片的性能。故，對芯片的可靠性測試，也是一項必不可少的工作。產品一直在運行，其芯片、模塊也一直在升溫，隨著時間的推移，長期這樣的環境，對電子產品的使用壽命有著重要的影響。因此，芯片的加速老化實驗，變得愈加重要。
HAST是一種試驗，用提高環境應力(如溫度、濕度、壓力)的方式，加速產品(主要為芯片）老化，縮短測試周期，用來評定PCB壓合和絕緣電阻，與相關材料的吸濕效果狀況，以評估固態組件的可靠性。HAST 通常會在 130 攝氏度、85% 相對濕度條件和高氣壓條件下，對器件進行至少 96 小時的測試。
因此，芯片設計公司，都會在芯片出廠前，通過HAST老化測試，來驗證產品的可靠性。從而篩選性能更好的良片投放市場。
為了滿足芯片設計公司芯片測試老化的需求，深圳市鴻怡電子有限公司，18年來致力于各種封裝芯片老化測試座的生產和研發，公司自有品牌的ANDK老化測試座可以很好的滿足客戶對芯片做加速老化試驗的需求，產品涵蓋QFN、BGA、WLCSP、LGA等各類封裝的芯片老化測試座。
若您有任何的需求及問題，歡迎隨時聯系！
電子郵件：liu@hydz999.com
掃一掃
