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    電子產品壽命短?HAST老化試驗做了嗎?

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    瀏覽:- 發布日期:2019-11-12 17:02:52【

    雙十一大站剛剛撤下帷幕,每年的雙十一大站中,電子產品無疑是競爭最火熱的一個站場。各路廠商也都卯足了勁火力全開,手機,筆記本,平板電腦等市場的需求越來越大,消費者對產品的性能,外觀方面有著越來越高的要求。而相應的生產廠商們也面臨著更嚴峻的考驗。小到主板芯片,LCD顯示屏,都需要經過千百道嚴苛的試驗。

    作為電子產品中最重要的組成部分之一,芯片的測試工作無疑是最為嚴苛的一道工序,我們都知道,電子產品的壽命,很大程度取決于芯片的性能。故,對芯片的可靠性測試,也是一項必不可少的工作。產品一直在運行,其芯片、模塊也一直在升溫,隨著時間的推移,長期這樣的環境,對電子產品的使用壽命有著重要的影響。因此,芯片的加速老化實驗,變得愈加重要。

    HAST是一種試驗,用提高環境應力(如溫度、濕度、壓力)的方式,加速產品(主要為芯片)老化,縮短測試周期,用來評定PCB壓合和絕緣電阻,與相關材料的吸濕效果狀況,以評估固態組件的可靠性。HAST 通常會在 130 攝氏度、85% 相對濕度條件和高氣壓條件下,對器件進行至少 96 小時的測試。

    因此,芯片設計公司,都會在芯片出廠前,通過HAST老化測試,來驗證產品的可靠性。從而篩選性能更好的良片投放市場。


    了滿足芯片設計公司芯片測試老化的需求,深圳市鴻怡電子有限公司,18年來致力于各種封裝芯片老化測試座的生產和研發,公司自有品牌的ANDK老化測試座可以很好的滿足客戶對芯片做加速老化試驗的需求,產品涵蓋QFN、BGA、WLCSP、LGA等各類封裝的芯片老化測試座。

    若您有任何的需求及問題,歡迎隨時聯系!
            電子郵件:liu@hydz999.com

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