<bdo id="6x7w6"><span id="6x7w6"></span></bdo>

  • <table id="6x7w6"><option id="6x7w6"></option></table>

    <li id="6x7w6"></li>

    <acronym id="6x7w6"></acronym><p id="6x7w6"><strong id="6x7w6"></strong></p>
  • 您好,歡迎來到深圳市鴻怡電子有限公司官網
    鴻怡測試座耐高低溫、抗老化、壽命長,世界500強企業指定供應商。
    當前位置首頁 » 鴻怡電子新聞中心 » 新聞中心 » 鴻怡動態 » 鴻怡電子第四代flash芯片BGA152/132測試座全新上市

    鴻怡電子第四代flash芯片BGA152/132測試座全新上市

    返回列表 來源:鴻怡電子 查看手機網址
    掃一掃!鴻怡電子第四代flash芯片BGA152/132測試座全新上市掃一掃!
    瀏覽:- 發布日期:2022-03-02 09:41:50【

    2022新年伊始,FLASH芯片市場異?;鸨?,缺芯短芯現象仍在上演。flash芯片測試座的需求也越來越多,為了迎合市場,給客戶帶來更低成本,性價比更好的產品。鴻怡電子的研發設計團隊不斷精溢求精。設計出了新一代的BGA152翻蓋探針測試座,新款的產品經過改良,在結構性能上也優于舊款。

    產品經過全新設計,相比上一代產品更有穩定性,操作更方便,效率更高。

    1.機械測試壽命10萬次,相比同類產品具有更高的使用壽命,保修時間一年半。

    2.支持有球/無球同測,使用溫度-40℃~155℃。

    3.限位框及壓塊改良,保證芯片的取放和接觸穩定性,減少誤測。

    4.探針采用鈹銅材質,阻抗小,探針的頭型能輕易刺破錫球氧化層,而不會損壞錫球,接觸更穩定。

    5.手扣加長,手感更好,便于扣合。

    6.上蓋開口角度加大,105°,操作更便捷。

    7.改良探針露針量,芯片擺放更平穩,減少芯片晃動影響測試良率。

    8.芯片取放位提高,相比上一代產品芯片取放更容易。

    BGA132翻蓋探針測試座

    BGA132測試座

    推薦閱讀

      【本文標簽】:BGA152測試座 BGA測試座 flash測試座 芯片測試座
      【責任編輯】:鴻怡電子版權所有:http://www.livearranger.com轉載請注明出處

      鴻怡電子推薦

      国产亚洲日韩在线a不卡

      <bdo id="6x7w6"><span id="6x7w6"></span></bdo>

    • <table id="6x7w6"><option id="6x7w6"></option></table>

      <li id="6x7w6"></li>

      <acronym id="6x7w6"></acronym><p id="6x7w6"><strong id="6x7w6"></strong></p>