“鴻”業之愿于精密檢測
“怡”心一意只為IC服務
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2022新年伊始，FLASH芯片市場異?；鸨?，缺芯短芯現象仍在上演。flash芯片測試座的需求也越來越多，為了迎合市場，給客戶帶來更低成本，性價比更好的產品。鴻怡電子的研發設計團隊不斷精溢求精。設計出了新一代的BGA152翻蓋探針測試座，新款的產品經過改良，在結構性能上也優于舊款。
產品經過全新設計，相比上一代產品更有穩定性，操作更方便，效率更高。
1.機械測試壽命10萬次，相比同類產品具有更高的使用壽命，保修時間一年半。
2.支持有球/無球同測，使用溫度-40℃~155℃。
3.限位框及壓塊改良，保證芯片的取放和接觸穩定性，減少誤測。
4.探針采用鈹銅材質，阻抗小，探針的頭型能輕易刺破錫球氧化層，而不會損壞錫球，接觸更穩定。
5.手扣加長，手感更好，便于扣合。
6.上蓋開口角度加大，105°，操作更便捷。
7.改良探針露針量，芯片擺放更平穩，減少芯片晃動影響測試良率。
8.芯片取放位提高，相比上一代產品芯片取放更容易。
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