2022新年伊始,FLASH芯片市場異?;鸨?,缺芯短芯現象仍在上演。flash芯片測試座的需求也越來越多,為了迎合市場,給客戶帶來更低成本,性價比更好的產品。鴻怡電子的研發設計團隊不斷精溢求精。設計出了新一代的BGA152翻蓋探針測試座,新款的產品經過改良,在結構性能上也優于舊款。
產品經過全新設計,相比上一代產品更有穩定性,操作更方便,效率更高。
1.機械測試壽命10萬次,相比同類產品具有更高的使用壽命,保修時間一年半。
2.支持有球/無球同測,使用溫度-40℃~155℃。
3.限位框及壓塊改良,保證芯片的取放和接觸穩定性,減少誤測。
4.探針采用鈹銅材質,阻抗小,探針的頭型能輕易刺破錫球氧化層,而不會損壞錫球,接觸更穩定。
5.手扣加長,手感更好,便于扣合。
6.上蓋開口角度加大,105°,操作更便捷。
7.改良探針露針量,芯片擺放更平穩,減少芯片晃動影響測試良率。
8.芯片取放位提高,相比上一代產品芯片取放更容易。