“鴻”業之愿于精密檢測
“怡”心一意只為IC服務
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IC測試座(測試插座)是對IC器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。
IC測試座，用于IC封裝后的測試，主要包含有互相組配的一上蓋板與一基座。上蓋板的內部容設有通孔，以及在鄰近前述的通孔附近設置有復數個測試探針，用以接觸IC，各測試探針的內部容設有測試彈簧?；膬炔咳菰O至少一承靠座，對應于上蓋板的通孔，用以承載待測IC。承靠座下方與基座之間設有至少一承靠彈簧，并且通孔與承靠座之間的距離小于IC封裝后的厚度，且承靠彈簧的彈性系數大于上述復數個測試彈簧的彈性系數的總和。
使用IC測試座的好處：
1)可避免待測IC于測試裝置測試時因尺寸不合而被壓損。
2)可避免因測試裝置與待測IC接觸不良而造成測試失敗。
3)以提升測試良率及降低制造成本。
鴻怡電子，中國優質IC測試座生產廠家，16年研發生產各類應用于集成電路功能驗證的測試座、老化座、燒錄座、集成電路應用功能測試夾具等經驗，世界500強企業指定供應商，產品榮獲多項國家發明專利和適用新型專利，咨詢熱線：400-0260-928
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