下壓式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片測試座

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瀏覽：- 發布日期：2021-10-18 14:42:10【大中小】

工廠介紹

鴻怡電子生產下壓式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片測試座，同時還生產其他種類齊全的芯片封裝測試座/老化座/燒錄座/測試夾具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

QFN20芯片老化座

產品簡介

產品用途:編程座、測試座，對QFN20的IC芯片進行燒寫、測試

適用封裝:QFN20 引腳間距0.4mm

測試座:QFN20-0.4

特點:采用U型頂針，接觸更穩定

規格尺寸

型號:QFN-20-0.4

引腳間距(mm):0.4

腳位:20

芯片尺寸:3*3

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