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    GDDR5探針測試座 BGA178測試架 夾具 工裝 2.8GHz高頻測試詳細信息/Detailed Information

    GDDR5探針測試座 BGA178測試架 夾具 工裝 2.8GHz高頻測試

    ①適用于常規的BGA178-0.8封裝的GDDR5顆粒芯片;
    ②雙頭高頻測試探針,可過2.8GHz高頻型號;
    ③帶PCB轉接板,采購回去在PCB板子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面適用;
    ④適用壽命100000次;
    ⑤適用環境溫濕度為-55~155℃≤85%hr;
    訂購熱線:13631538587
    立即咨詢

    測試座(夾具)特點:
    ①適用于常規的BGA178-0.8封裝的GDDR5顆粒芯片;
    ②雙頭高頻測試探針,可過2.8GHz高頻型號;
    ③帶PCB轉接板,采購回去在PCB板子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面適用;
    ④測試座設計成翻蓋結構,使用測試簡單方便,壓合平穩接觸穩定。
    ⑤測試座外殼采用陽極硬氧鋁合金材質,表層絕緣耐磨、抗氧化強使用年限長。
    ⑥測試座使用進口雙頭探針接觸方式,相比同類測試產品使IC與PCB之間數據傳輸距離更短,從而使測試 更穩定,頻率更高。
    ⑦測試(老化)PCB與Socket采用定位銷定位及防呆,采用螺絲連接、固定,拆卸、維護簡單方便。

    測試座(夾具)特性
    ①結構:翻蓋式;
    ②外殼材質:鋁合金;
    ③接觸方式及材質:雙頭探針,鈹銅鍍金;
    ④核心部件材質:peek陶瓷;
    ⑤額定電流:1A;
    ⑥操作壓力:30g、PIN越多壓力越大;
    ⑦接觸電阻:<100mΩ;
    ⑧環境溫度:-55℃~175℃;
    ⑨機械壽命:100000;


    20年專注,鑄就品牌

    深圳市鴻怡電子有限公司是一家集研發、生產、銷售于一體的技術型高新企業。公司專注研發生產各類應用于芯片功能驗證的IC test socket/fixture、老化座、燒錄座、FPC/BTB測試模組,提供專業的芯片測試老化解決方案。


    GDDR178測試座

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