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    新能源汽車車規芯片DFN封裝MOS場效應管\大功率管 測試座_PDFN芯片老化座詳細信息/Detailed Information

    新能源汽車車規芯片DFN封裝MOS場效應管\大功率管 測試座_PDFN芯片老化座

    該QFN產品系列主要應用于新能源汽車車規芯片高低溫老化、性能測試使用
    適用于PDFN、DFN、TO等封裝大電流大功率芯片、MOS管
    常見的芯片有電源轉換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試
    使用環境溫度最高可達到200℃≤85HR@3000小時
    訂購熱線:13631538587
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    MOS大功率管測試座(夾具)特點:
    ①測試座設計成翻蓋結構,使用測試簡單方便,壓合平穩接觸穩定。
    ②測試座外殼采用陽極硬氧鋁合金材質,表層絕緣耐磨、抗氧化強使用年限長。
    ③測試座使用進口雙頭探針接觸方式,相比同類測試產品使IC與PCB之間數據傳輸距離更短,從而使測試 更穩定,頻率更高。
    ④測試(老化)PCB與Socket采用定位銷定位及防呆,采用螺絲連接、固定,拆卸、維護簡單方便。

    DFN封裝測試座(夾具)特性
    ①結構:翻蓋式;
    ②外殼材質:鋁合金;
    ③接觸方式及材質:雙頭探針,鈹銅鍍金;
    ④核心部件材質:peek陶瓷;
    ⑤額定電流:1A;
    ⑥操作壓力:30g、PIN越多壓力越大;
    ⑦接觸電阻:<100mΩ;
    ⑧環境溫度:-55℃~175℃;
    ⑨機械壽命:100000;


    工廠介紹

    鴻怡電子生產的該QFN產品系列主要應用于新能源汽車車規芯片老化測試用, 適用于電源轉換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試,包含汽車EMC芯片老化測試、汽車氣壓控制芯片老化測試、汽車DSP控制器芯片老化測試、汽車液位檢測設備芯片老化測試、汽車ECU芯片老化測試、壓力傳感器芯片老化測試、汽車ASC芯片老化測試

    新能源汽車芯片測試座

    車規級汽車芯片測試座

    汽車芯片老化座

    汽車芯片老化測試座


    采購:新能源汽車車規芯片DFN封裝MOS場效應管\大功率管 測試座_PDFN芯片老化座

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